Mitutoyo三豐 SJ-210粗糙度儀技術參數介紹

小型表面粗糙度測量儀的**版 猶如手動工具般的簡單、 易于現場使用、 便于攜帶的小型表面形狀測量機。搭載了附有背光燈的2.4寸彩色液晶顯示屏 搭載了識別度較高的彩色LCD、實現了豐富的顯示功能，操作更直觀。 背光燈的采用，即使是灰暗現場也不會影響操作。 操作鍵排列簡單 本體表面和保護罩內的按鍵使操作更簡易、更準確。

高性能的儲存功能 可儲存10個測量條件，1個測量結果。 可選配儲存卡(選件) 測量數據及測量條件可保存在儲存卡(選件)上。 選配的儲存卡可保存大量的數據。 密碼保護 各種功能可單獨設置密碼，您可以防止錯誤操作和配置管理。 多語言應對 16國語言對應，可自由切換。 測針報警功能  超出設定的測量累計距離【界限值】時會有提醒。

對應各種規格標準 可對應JIS(JIS-B0601-2001、JIS-B0601-1994、JIS-B0601-1982)、VDA、 ISO-1997、ANSI的各種粗糙度規格。 評價曲線等的曲線顯示功能 顯示演算結果的基礎上，還可顯示每個區間的演算結果、評價曲線、負荷 曲線、振幅分布曲線。

操作鍵 
●主機表面和保護罩內的按鍵使操作更簡 易、更準確。 
●清晰易懂的畫面結構和十字鍵實現了更直 觀的操作性。 
●(←)(→)左右鍵可簡單完成畫面的設定。 
●使用頻率低的鍵可收納在保護罩內防止誤 操作。

參數設定和再計算功能：
●從畫面選擇所需要的參數。另 外，從子菜單中也可簡單的進行 公差的設定。也可輕松實現測量 后變更為其他參數進行再計算*。 * 一部分，有條件限制。

內置可充電電池，充分發揮了便攜表面粗糙度儀的測量優勢：
●可對應側壁、向上等各種姿勢的測量。 
●可通過高度尺適配器等的附件 * 進行各種姿勢和定位測量。

主要特點：

■ 低測力，應用于太陽能硅片等粗糙度的測量，硅片表面線痕的測試。
■ 大型 LCD 屏幕窗口,易于清晰讀取。 
■ 使用觸控式面板（具抗污性）,操作簡易。 
■ 可將數據儲存于記憶卡（選購品）。 
■ 任意長度設定機能。 
■ 僅按 PRINT 鍵即可藉由內藏式打印機打印出量測之結果（可選擇不同之打印方式）。 
■ 內藏 充電電池,本體攜帶方便也可收置檢出器。 
■ 擁有豐富的參數：自動校正機能、統計處理、合否判定機能、客戶自行編輯設計機能判定機能 
 

型號 SJ-210 參數
平移范圍 17.5mm （ 5" ） 
測量范圍 350μm （ ±150μm ） [12000μinch （ ±6000μinch ） ] 
驅動 / 檢測元件 探測儀 :178-390/178-395 
測頭 : 金剛石 
測量力 :4mN/0.75mN 
探測方式 : 微感應 
評定輪廓 P , R 
估計參數 Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Sm,S,Pc,P3z,mr 
數字過濾 2CR-75%,2CR-75% PC,Gaussian-50% 
截至 λC 0.25,0.8,2.5mm 
波長 λS 2.5,8μm 
取樣長度（ L ） 0.25,0.8,2.5mm 
顯示 ：彩色 LCD 
打印機：外置 
數據輸出 通過 RS232C 接口 /SPC 輸出 
電源通過 AC 適配器 / 電池（可充電） 
尺寸 62×156.5×52mm 
重量 0.48kg

標準附件：

12BAA303 連接電纜 *9 178-601 粗糙度標準片Ra(3µm) 12BAK699 攜帶皮套 12BAK700 校準臺 顯示器保護膜 AC 適配器, 操作手冊 速查手冊, 保證書

12BAA303 連接電纜 *9 178-605 粗糙度標準片Ra(1µm) 12AAE643 點接觸適配器 12AAE644 V-型適配器 12BAK699 攜帶皮套 12BAK700 校準臺 顯示器保護膜, AC適配器, 操作手冊, 速查手冊, 保證書