PH20五軸觸發(fā)式測(cè)座Renishaw

傳統(tǒng)的觸摸觸發(fā)測(cè)量方法依賴于加快CMM的3個(gè)軸的運(yùn)動(dòng)來快速測(cè)量——PH20采用了為屢獲殊榮的REVO系統(tǒng)開發(fā)的頭部運(yùn)動(dòng)技術(shù)，以*大限度地減小CMM在更高測(cè)量速度下的動(dòng)態(tài)誤差。
PH20*的“頭部接觸”允許只移動(dòng)頭部而不是CMM結(jié)構(gòu)來獲取測(cè)量點(diǎn)。取點(diǎn)更快，準(zhǔn)確度和可重復(fù)性更高。5軸運(yùn)動(dòng)消除了為頭部建立索引所花費(fèi)的時(shí)間。與傳統(tǒng)系統(tǒng)相比，這些速度的提高使吞吐量提高了3倍。
PH20的無限定位能力保證了*佳的功能訪問，大限度地減少了觸針的更換。5軸同步運(yùn)動(dòng)通過減少頭部旋轉(zhuǎn)所需的零件周圍空間，允許在CMM上測(cè)量較大的零件。PH20自動(dòng)與零件坐標(biāo)系對(duì)齊，避免觸針碰撞和對(duì)準(zhǔn)確夾具的要求。

動(dòng)動(dòng)你的頭！性能更佳

傳統(tǒng)觸發(fā)測(cè)量方法依靠加快坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的三軸運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)行快速測(cè)量，PH20與之不同，它采用為REVO系統(tǒng)（曾獲得多項(xiàng)殊榮）開發(fā)的測(cè)座運(yùn)動(dòng)技術(shù)，可在較高的測(cè)量速度下將坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的動(dòng)態(tài)誤差降至低。

PH20*的“測(cè)座碰觸”可以僅通過移動(dòng)測(cè)座而不是坐標(biāo)測(cè)量機(jī)結(jié)構(gòu)，來采集測(cè)量點(diǎn)。可以更快地采集測(cè)量點(diǎn)，并且提高了精度和可重復(fù)性。

此外，五軸聯(lián)動(dòng)可省去測(cè)座旋轉(zhuǎn)定位時(shí)間。綜合上述因素，這些速度的顯著提高使得新系統(tǒng)的測(cè)量效率比傳統(tǒng)系統(tǒng)提高了兩倍。

更快標(biāo)定

為PH20開發(fā)的*“推論標(biāo)定”技術(shù)可一次確定測(cè)座方向和測(cè)頭位置，從而實(shí)現(xiàn)以任意測(cè)座角度完成后續(xù)測(cè)量。其他模塊在使用之前，只需簡(jiǎn)單在標(biāo)準(zhǔn)球上測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)即可。（如果需要提高測(cè)量精度，可循待測(cè)特征的方向單獨(dú)進(jìn)行測(cè)尖校正）。

由于為符合質(zhì)量管理程序或在測(cè)頭碰撞后，定期重復(fù)進(jìn)行標(biāo)定過程，因此日積月累，可以節(jié)省大量的時(shí)間。

內(nèi)置行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)TP20測(cè)頭

PH20測(cè)座的用戶可以直接配用一系列成熟的TP20測(cè)頭模塊，提供各種測(cè)力、方向感應(yīng)選項(xiàng)和加長(zhǎng)桿，以滿足應(yīng)用需求。磁力式模塊可提供碰撞保護(hù)，并可以利用TCR20交換架實(shí)現(xiàn)自動(dòng)交換。

篤摯儀器提供的產(chǎn)品有：圓度儀，圓柱度儀，輪廓測(cè)量?jī)x，表面粗糙度儀，三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，便攜式三坐標(biāo)測(cè)量臂，測(cè)高儀，高度儀、影像測(cè)量?jī)x，萬能測(cè)長(zhǎng)儀，測(cè)量投影儀，日本三豐量具，瑞士TESA量具，德國馬爾量具，金相顯微鏡，萬能工具顯微鏡，掃描電子顯微鏡，涂鍍層測(cè)厚儀，超聲波測(cè)厚儀，凸輪軸綜合測(cè)量機(jī)，曲軸綜合測(cè)量機(jī)，齒輪測(cè)量中心，直讀光譜儀，便攜式光譜儀，合金元素分析儀，重金屬元素分析儀，貴金屬元素檢測(cè)儀，液相色譜儀，殘余應(yīng)力分析儀，精密計(jì)量檢測(cè)儀器；產(chǎn)品涵蓋長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器、試驗(yàn)儀器、測(cè)繪儀器、分析儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、建筑儀器、光學(xué)儀器、無損檢測(cè)等。