尼克斯CMI153 涂層測厚儀

CMI153 涂層測厚儀結合磁感應和電渦流技術，在CMI150涂層測厚儀基礎上，通過增強操作性能及出色的底材靈敏度，改進了測量探頭。CMI153涂層測厚儀適用于多種配置，可測量有色金屬底材上的非導電涂層和鋼鐵底材上的非磁性涂層。

• 有色金屬和有色金屬基體涂層測量
• 鐵基材，磁感應：0.001-2.04mm（0.1-80mils）
• 有色金屬基材，渦流：0.001-1.52mm（0.1-60mils）
• zui低有色金屬和有色金屬基板厚度：305？m，12mils
• 精度：±（2 m +讀數的3％）或±（0.1mils +讀數的3％

牛津儀器CMI153是一種高品質且經濟實惠的涂層厚度測量儀器。 CMI153涂層厚度分析儀適用于有色金屬基材（主要是Al，Cu，接近100％IACS導電性要求）和非鐵涂層（鋼鐵，鐵）的非導電涂層）。渦流技術非導電性有色金屬如鋁，黃銅或銅：特氟隆，搪瓷，環氧樹脂，陽極氧化，油漆和粉末涂層。非磁性涂層在鋼鐵或鐵基材上的磁感應技術：鋅，鎘，油漆和粉末涂層。該系統專門設計用于處理壓片機，涂布機和優質專業人員的需求。

理想的方法解決方案：

1.油漆和粉末涂層

2.涂層檢查員

3.電鍍廠

4.涂裝承包商

5.汽車和航空航天業的完成者。

關于常規涂鍍層測厚儀的原理：

  對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關和標準中稱為覆層（coating）。

  覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量標準的*手段。為使產品化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

  覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

  X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

  隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。

  采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行。